XAPT - industrielle Bildverarbeitung

MULTISENSORENTECHNOLOGIE

Von der klassischen Messtechnik
zur Facettensicht.

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xt ser2 lang

Xapt XT Systeme

Bandsensorsysteme der Xapt XT-Serie sind speziell für die Erfassung von Bandkenndaten wie Breite, Risse, Löcher und die Bandmittenlage konzipiert. Nach dem Funktionsprinzip des Durchlichtverfahrens wird ein Sensorbalken oberhalb des Bandes und eine Lichtquelle unterhalb platziert. Weitgehend unabhängig von der Materialart können jegliche band- oder bahnförmigen Materialien optoelektronisch und damit berührungslos auf Qualitätsmerkmale oder Geometriekenndaten kontinuierlich überprüft werden.

Übersicht XT Systeme

xs ser2

Xapt XS Systeme

Die Xapt XS-Serie ist spezifiziert, Fehlstellen auf Oberflächen von band- oder bahnförmigem Materialien zu erfassen. Hierzu wird ein Sensorbalken und ein oder zwei Lichtbalken als kompaktes Modul auf die zu prüfende Oberfläche gerichtet. Wahlweise kann mit einer weiteren baugleichen Anordnung auch die andere Bandseite geprüft werden.

 

Übersicht XS Systeme

XC Serie IMS crp

XAPT XC Systeme

Die Bandsensorsysteme der Xapt XC Serie sind speziell für die Erfassung der Kontur von band- und bahnförmigen Materialien konzipiert. Die klassische Abstandsmessung durch Lasertriangulation wird mit einer neuartigen Architektur optoelektronischer Bildsensoren kombiniert, wodurch Profile kontinuierlich und berührungslos analysiert werden können - annähernd unabhängig von der Materialbeschaffenheit.

 

Übersicht XC Systeme

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